HAST非飽和高壓加速老化箱的HAST試驗是指高加速溫度、濕度、應力試驗。隨著近來電子技術的高速發展，幾年前剛剛出現的的加速試驗可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專門針對微電子產品的加速試驗。例如，由于塑料集成電路包的發展，現在用傳統的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數情況下，試驗樣本在整個試驗中不發生任何失效。不發生失效的試驗是說明不了什么問題的。而產品在使用中必定會偶爾失效。因此，需要進一步改進加速試驗。HSAT就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發的方法。
HAST非飽和高壓加速老化箱設備特點：
1.標準設計更安全:內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規范；
2.多重保護功能:各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
3.穩定性更高:控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩定性；
4.濕度自由選擇:飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由設定)；
5.智能化高:支持電腦連接，利用usb數據、曲線導出保存。
HAST非飽和高壓加速老化箱的規范要求：
1.HAST老化箱內膽采用圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
2.配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。
3.標準配備8條試驗樣品信號施加端子，也可以根據需要增加端子數量，最多具備55條偏壓端子。
4.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業。
服務熱線：0769-22851840
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更新時間：2023-02-19 
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